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Seminar: Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Seminarziel ist das Verständnis der für die Praxis wichtigen Zusammenhänge und Arbeitsmethoden Seminartermine in Bonn nach Vereinbarung, jeweils von 9.00 bis 18.00 Uhr. Die
Teilnehmer erhalten ein Skriptum, Unterlagen sowie eine Teilnahmebescheinigung. Bitte kontaktieren Sie uns. Aus dem Inhalt: Theoretische Grundlagen:
Aufbau und Funktion des Rasterkraftmikroskops - Betriebsarten des Rasterkraftmikroskops (u.a. contact mode, non-contact mode, EFM, MFM, Kraftmodulationstechnik usw.) - Einsatzmöglichkeiten der Rasterkraftmikroskopie in Forschung, Herstellung und Qualitätsprüfung - Präparation der Untersuchungsproben ( Säubern der Proben, Einbettung, Schneiden, Schleifen, Polieren usw.) - Praktische Übungen:
Topography-, Force-, Friction-Mode in der Anwendung - Auswahl der geeigneten Cantilever - Bestimmung der Rauheitsparameter entsprechend Din- / Iso-Vorschriften - Auswahl der geeigneten Betriebsparameter - Kalibrierung der Kraft und der Scannermaxima - Artefakte und ihre Erkennung und Vermeidung (Einsatz von Oszillografen und low-cost Spektrumanalyzern zur Ermittlung z.B. von Vibrationen) - Test des Scanners auf: Nichtlinearität, Hysteresis, Creep und Cross Coupling Effekt -
Ausgewählte Literatur und Unterlagen zu den vorgestellten Methoden und Hilfsmitteln, Diskussion und Übungen an ausgewählten Präparaten weitere Themen auf Anfrage.. |