Rasterelektronenmikroskopie (REM)                   

Für die Verbesserung von Werkstoffen und Produkten oder der Materialeigenschaften gibt die  Oberflächen- und Strukturanalyse im Rasterelektronenmikroskop (REM) wertvolle Hinweise zur  Optimierung des Herstellungsverfahrens (siehe Beispiele REM).

REM Information: Topographie,  Materialkontrast.

Es werden u.a. untersucht: die Morphologie in Abhängigkeit von chemischen und physikalischen  Einflüssen insbesondere  Oberflächenschäden durch Abrieb und Verschleiss oder durch Einwirkung von UV-Bestrahlung, Bewitterung, thermische und biologische  Einwirkung.

Es werden Schadensursachenanalysen durchgeführt in: Werkstoffen und Produkten.

Material-, Fehler- und Qualitätsanalyse im Entwicklungs- und Herstellungsprozess mittels geeigneter Parameter wie z.B.: Partikel- , Faser-,  Polymer-, Kristall-, Granulat-, Folien-, Staubanalyse, Kornform- und größen-, Porengrößen-, Kornlängenbestimmung,  Risse, Porosität, Faserabstände, Korndurchmesser, Größenverteilungen, Filteranalysen, Darstellung von Rissen,  Quellung und Schrumpfung, Bestimmung der Rauheitsparameter sowie zerstörungsbehaftete als auch zerstörungsfreie Schichtdickenmessung.

Beispielsweise kann das Ausmaß der Oberflächenschäden in Intraokularlinsen wie sie z.B. nach entzündlichen Reaktionen vorkommen können, in Kombination mit bildanalytischen Methoden quantifiziert werden.

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